膜厚儀內置高精密雙探頭，利用電磁感應和渦流效應，全自動探測基材屬性，計算涂鍍層厚度，并通過點陣液晶快速顯示結果。同時，測量數據可分組保存，并實時顯示統(tǒng)計值。用戶可分別為每組設置上下限報警值、零校準、多點校準。全新的多點校準和零校準，讓您非常方便的隨時進行校準。標準化菜單，確保您非常容易的使用它。
膜厚儀的產品特點：
32位嵌入式系統(tǒng)控制技術。
扁平化設計，直觀，操作方便。
觸摸屏操作
所有操作均可在一個平面內完成，無須進入退出操作。
TFT真彩色液晶顯示。
接觸式厚度測量。
測試過程自動化完成。
手動、自動雙重測量模式。
可采用標準厚度計量工具標定、檢驗。
符合GB，ASTM等多種標準規(guī)定，標準接觸面積、測量壓力。
平均值、標準差等數據統(tǒng)計分析功能。
量程可調。
配置微型打印機，可自動打印試驗數據。
配置標準RS232通信口，利用專業(yè)計算機軟件可更大限度地挖掘試驗數據價值。
可支持以太網通信，方便數據聯網。
可支持DSM實驗室數據管理系統(tǒng)，實現數據統(tǒng)一管理。
膜厚儀是一種超小型測量儀，它能快速、無損傷、精密地進行磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層厚度的測量?？蓮V泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領域。由于該儀器體積小、測頭與儀器一體化，特別適用于工程現場測量。
